兩槽式冷熱沖擊試驗箱 散熱器測試

安全保護裝置

兩槽式冷熱沖擊試驗箱 散熱器測試

應用優勢

• 模擬環境：能夠精準模擬芯片在現實應用中可能遭遇的溫度變化環境，讓芯片充分暴露在劇烈的溫度變化條件下，有效檢測芯片在不同溫度梯度下的性能表現，如電氣參數是否穩定、信號傳輸是否準確無誤等，進而發現潛在的材料缺陷、封裝問題或線路設計瑕疵.

• 檢測熱應力影響：芯片在溫度急劇變化過程中會產生熱應力，冷熱沖擊試驗箱的反復高低溫循環沖擊，可使芯片內部的熱應力不斷累積和釋放，從而精準地篩選出那些在熱應力作用下容易出現結構損壞、連接點斷裂或分層等問題的芯片，提前發現并解決此類問題，提高芯片在長期使用過程中的結構完整性和連接可靠性.

• 助力研發加速：在芯片研發階段，冷熱沖擊試驗箱能夠在較短時間內對大量芯片樣本進行全面且深入的可靠性測試，快速獲取芯片在不同溫度沖擊條件下的性能數據和失效模式。研發人員依據這些數據，可及時對芯片的設計方案、材料選型以及制造工藝進行優化與改進，加快芯片研發進度，降低研發成本，使芯片能夠更快地滿足市場需求和相關標準要求.

• 保障關鍵應用：芯片在通信、醫療、汽車電子等關鍵領域的可靠性至關重要。冷熱沖擊試驗箱通過嚴格的測試，確保芯片在這些高要求領域中能夠承受溫度變化的考驗，為整個系統的穩定運行奠定堅實基礎，有力地保障了各行業關鍵應用的順利進行，避免因芯片故障引發的嚴重后果和巨大損失.

技術參數：

1.溫度范圍：-20℃～150℃
2.濕度范圍：20%～98%R.H
3.溫度均勻度：≤±2℃（空載時）
4.濕度均勻度：+2%-3%R.H
5.溫度波動度：≤±0.5℃（空載時）
6.濕度波動度：±2%
7.溫度偏差：≤±2℃
8.濕度偏差：≤±2%
9.降溫速率：0.7～1.0℃/min
10.升溫速率：1.0～3.0℃/min
11.時間設定范圍：0～999小時
12.電源電壓：380V±10%
13.設備總功率：3KW～15KW